SSDA 2013 SSD Technical Seminar in Autumn

2013/10/14

為協助共同推動SSD技術的普及與進步，Allion Labs始終不遺餘力地致力SSD驗證技術的精進。身為SSD聯盟的一份子，此次我們也協助舉辦這場難得的SSD技術研討會，敬邀我們的客戶一同蒞臨參與參與。

SSD聯盟2013年秋季技術研討會將於11月7日 (週四下午) 在南港展覽館會議室舉辦，SSD聯盟自成立以來致力於SSD技術的推動與發展，隨著行動裝置如平板電腦與超輕薄筆電的快速崛起，SSD已成為新世代最熱門的儲存技術。為了推動SSD產業更多元化的新知技術及發展，SSD聯盟提供國際技術交流平台定期舉辦技術研討會並邀請頂尖的技術專家提供SSD最新的趨勢消息，協助SSD相關製造商取得SSD產品的前瞻技術以及應具備的國際競爭優勢。

SSD聯盟2013年秋季技術研討會持續邀請到來自業界與學界的SSD技術專家，除了會員公司講者所提供的SSD相關寶貴資訊外，在本次活動中，SSD聯盟特別邀請到來自Micron的國際重量級VIP講師Dr.Koji Sakui（作井康司博士），他於1981年曾加入了東芝研究開發中心，參與DRAM電路設計，自1990年以來，Dr.Koji Sakui持續致力於高密度NAND快閃記憶體的發展、管理東芝快閃記憶體設計的SoC研發中心並擔任開發90nm、70nm、55nm的NAND快閃記憶體設計，亦先後服務於Sony管理記憶體系統部門、與擔任Intel的NAND產品事業群研究科學家。Dr.Koji Sakui參與許多記憶體相關研究學會與社群，擁有91項美國專利與24篇技術論文，並於2012年成為IEEE Fellow。

除了來自業界知名大廠的講師之外，今年秋季研討會SSD聯盟也邀請到交通大學的教授Dr. Hiroshi Watanabe （渡邊浩志教授） 為我們介紹SSD設備級的安全相關熱門技術議題以及市場研究報告和趨勢，渡邊教授自1994年到2010年在Toshiba集團的協同研究與發展中心任職，在期間研發了針對閘極堆疊以及快閃記憶體可靠性研究的特殊元件模擬器，而針對這個元件模擬器所研發的元件模擬法非常適合作為未來奈米元件研究的基石。目前渡邊教授在國立交通大學電子與資訊研究中心擔任教授，主要的研究方向是建立針對奈米元件世代的元件物理方法以及半導體元件的安全性進行研究。SSD聯盟所提供的師資陣容將提供相關製造業廠商更多SSD技術的創新思維與視角。SSD聯盟誠摯邀請SSD產品相關研發、製造商以及其它有興趣投入這個產業的公司一同共襄盛舉。

歡迎蒞臨指教
會長 智微科技 黃建仁/Jet Huang
副會長 華騰國際科技 曾德彰/Alex Tseng

 

參加辦法請您點畫面進入線上報名系統。您的熱情參與將使得SSD聯盟更加成長並為SSD產業持續提供推動發展的力量

主辦單位：	中華民國固態磁碟技術推廣協會（Solid State Drive Alliance）
活動時間：	2013年11月7日（星期四）13:00pm–17:30pm
活動地點：	台北世界貿易中心南港展覽館會議室 402 會議室
地址：	台北市11568南港區經貿二路1號		Map
詳細議程：	• SSD相關技術更新與市場趨勢，完整議程請見下方活動議程
報名費用：	免費 ※ 因活動場地空間有限，每家公司報名名額限兩位，不便之處敬請見諒。
聯繫窗口：	如有任何疑問，請聯繫 Kitty Chou SSDA Administrator Tel: +886-2-7722-8800 ext.2030 Email: admin@ssdalliance.org
注意事項： 1. 活動場地空間有限，恕不接受現場報名。 2. 本次活動如適逢天災(地震、颱風等)不可抗拒之因素，將延期舉辦、時間另行通知。

 

◎ 活動議程

時間 TIME	主題 TOPIC	講者 SPEAKER
13:00-13:35	報到 Registration
13:35-13:40	理事長致詞 Opening by SSDA Chairman	Jmicron Technology Corp. Mr.Jet Huang
13:40-14:30	邁向新世代的記憶體儲存技術 Next Generation Memory Technology	Micron Technology, Inc Dr.Koji Sakui
14:30~15:20	半導體元件於SSD上的安全技術與應用 Device Level Security Implementation to SSD	National Chiao-Tung University Prof.Hiroshi Watanabe
15:20~15:40	茶歇 Tea Break
15:40~16:30	Flash產業面臨的技術挑戰與高可靠度SSD解析 The Challenge of Flash Industry and High Reliability SSD	ATP Electronics Taiwan Inc. Mr.Alex Tseng
16:30~17:20	企業級SSD的最新趨勢發展及效能剖析 Enterprise SSD Trends and Performance Analysis	Allion Labs, Inc. Mr. Richard Shen
17:20~17:30	技術問答 Q & A
17:30	交流時間 / 會議結束

 

◎ 講師介紹

Dr. Koji Sakui ● 2010-Now: Senior Architect and Technologist of Memory Innovations, Micron ● 2007-2010: Research Scientist of NAND Flash Products Group, Intel. And Visiting Professor of Tohoku University (東北大學) ● 2004-2007: G.M. Design Dept. of Memory and Image Sensor, SONY ● 1981~2004: Design Leader of NAND Flash Memory, Toshiba ● Became an IEEE Fellow in 2012 ● Holds 91 US patents granted, and published over 24 technical papers. ● Received Kanagawa Governor Patent Award in 1997 and Kanto District Patent Award in 2005 ● Received Ph.D degree from Tohoku University in 1995.	Prof. Hiroshi Watanabe ● Current position is a full professor at Department of Electrical Engineering (EE) & Microelectronics and Information System Research Center (MISRC) in National Chiao Tung University (NCTU), since February, 2010 ● Joined the Corporate Research & Development Center, Toshiba Corporation from 1994 to 2010 ● Received the Ph.D. degree from the University of Tsukuba, Ibaraki, Japan, in 1994. ● Current research interest is to establish new device physics for nano-device era and to establish semiconductor security device technologies. ● Has over 160 patents all over the world (82 approved & 81 waiting or under examination) ● A senior member of the IEEE, and also a Memory subcommittee member of IRPS (International Reliability Physics Symposium) until 2012.
Mr. Richard Shen ● Current position is a Manager at Allion of leading major vendors validation service in storage field. ● With over ten years experience at Allion and expertise in developing storage validation plan ● Specialized in SSD product testing development, mainly in SSD product’s potential risk, failures and performance analysis ● With over ten year experience. for Microsoft WHQL Storage testing	Mr. Alex Tseng ● Director of Project Management. Mainly in charge of the engineering and program development at ATP TW ● With over ten year experience of design, research and development experiences in DRAM and NAND Flash industry ● The author of “NAND Flash Memory” (ISBN 978-986-81783-8-0)

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